Advertising

ООО «АЙТИИ ЭКСПО ИНТЕРНЕШНЛ», ИНН 7708333955

erid:2VfnxxBbL4Q

EVENT SEARCH
Введите ключевое слово, название события, тематику или город чтобы получить подсказку.
Topic: Any  
Venue: Any  
Period: Any  
ExhibitionsJapanTokyoELECTROTEST JAPAN 2010

ELECTROTEST JAPAN 2010 - крупнейшая японская выставка всех видов тестов, измерительных систем для SMT

ELECTROTEST JAPAN 2010 - крупнейшая японская выставка всех видов тестов, измерительных систем для SMT

from 20 to Jan. 22, 2010
Japan, Tokyo

About the exhibition ELECTROTEST JAPAN 2010

Выставка ELECTROTEST JAPAN 2010 проводится from 20 to Jan. 22, 2010 in city Tokyo, Japan.

Экспонируемые продукты и разделы выставки Вы можете посмотреть ниже, в блоке «Дополнительная информация». Полный список участников ELECTROTEST JAPAN 2010 размещается на официальном сайте выставки и постоянно обновляется. Там же Вы сможете найти экспонентов предыдущего года. Деловая программа ELECTROTEST JAPAN 2010 обычно публикуется ближе к началу события.

Ваш личный календарь

Добавьте выставку ELECTROTEST JAPAN 2010 в календарь, чтобы не потерять важное событие. Создавайте свое расписание мероприятий.

Планируете самостоятельную поездку на ELECTROTEST JAPAN 2010?

Мы рекомендуем посмотреть отели и цены в период проведения выставки здесь. Не забудьте проверить место и даты выставки на официальном сайте и в календаре выставочного комплекса. Событие могут перенести, отменить, объединить с проектом схожей тематики. Expomap не несет ответственности за неточности предоставляемой информации.

Есть вопрос о посещении или участии в ELECTROTEST JAPAN 2010? Ответим по тел. +7 (499) 999-12-07

Additional information and services:
Exhibited products:
Электроника: дизайн и компоненты Измеретельные и испытательные технологии и оборудование Обеспечение качества: системы и оборудование контроля
Website:
visit the exhibition website


Planned to be there ELECTROTEST JAPAN 2010

    No one has checked in at the event so far.

    I am goinging to visit
    Other exhibitions that may be interesting you: