Add an event Registration
EVENT SEARCH
Enter a key word, event name, theme or city to get a hint.
Topic: Any  
Venue: Any  
Period: Any  
 
Homepage Exhibitions Japan Tokyo ELECTROTEST JAPAN
Exhibitions Japan Tokyo ELECTROTEST JAPAN

ELECTROTEST JAPAN - самая крупная японская выставка всех видов тестов, измерительных систем для SMT

ELECTROTEST JAPAN - самая крупная японская выставка всех видов тестов, измерительных систем для SMT

from 16 to Jan. 18, 2008
Japan, Tokyo
Participate
I am goinging to visit Calender
 Remind about the event

About the exhibition ELECTROTEST JAPAN

Exhibition ELECTROTEST JAPAN is held from 16 to Jan. 18, 2008 in city Tokyo, Japan.

Экспонируемые продукты и разделы выставки Вы можете посмотреть ниже, в блоке «Дополнительная информация». Полный список участников ELECTROTEST JAPAN размещается на официальном сайте выставки и постоянно обновляется. Там же Вы сможете найти экспонентов предыдущего года. Деловая программа ELECTROTEST JAPAN обычно публикуется ближе к началу события.

Ваш личный календарь

Добавьте выставку ELECTROTEST JAPAN в календарь, чтобы не потерять важное событие. Создавайте свое расписание мероприятий.

Планируете самостоятельную поездку на ELECTROTEST JAPAN?

Мы рекомендуем посмотреть отели и цены в период проведения выставки здесь. Check the exhibition place and dates on the official website and in the exhibition complex calendar. The event can be rescheduled, cancelled, merged with a similar topic project. Expomap is not responsible for any discrepancies in the information provided.

Do you have questions about participation or visiting ELECTROTEST JAPAN? We will answer, call us by +7 (499) 999-12-07
Additional information and services:
Exhibited products:
Электроника: дизайн и компоненты Измеретельные и испытательные технологии и оборудование Обеспечение качества: системы и оборудование контроля
Website:
visit the exhibition website
History:

Planned to be there ELECTROTEST JAPAN

No one has checked in at the event so far.

I am goinging to visit
Other exhibitions that may be interesting you:
Also see: